梅特勒XPE新超越系列天平
梅特勒XPE205分析天平独特的性能：
StaticDetect™静电检测和静电消除技术，加上先进的SmartGrid网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。创新型StatusLight™天平就绪指示灯以及利用TestManager™测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。
梅特勒XPE205分析天平技术参数：
量程:220.0g,可读性:0.01 mg,最小称量值：4.0 mg，重复性：0.015mg，线性误差（典型值±）0.1mg
稳定时间: 2.5 sec
尺寸 宽度: 263.0 mm
尺寸 深: 487.0 mm
尺寸 高度: 322.0 mm
秤盘外形尺寸 深: 78.0 mm
秤盘外形尺寸 宽度: 73.0 mm
Material Number: 30087653
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