 | 精密天平EP8200C称量范围：8200g，读数精度：0.01g，SCS智能内校功能 |
 | 电子天平HZ-124/105S100g/0.01mg + 120g/0.1mg校正方式 一键自校+时控校准+温控校准+开机自动校准 |
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 | 分析天平AP225WD称量范围：220g/102g，精度：0.1mg/0.01mg，校准方式：内部校准 |
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 | 分析天平ES420A称量范围：420g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 精密天平ES2220M称量范围：2220g，读数精度：1mg，SCS智能内校功能 |
 | 精密天平EP1220M称量范围：1220g，读数精度：1mg，SCS智能内校功能 |
 | 分析天平EP120A称量范围：120g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 分析天平AP135W称量范围：135g，精度：0.01mg，校准方式：内部校准 |
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 | 电子天平HZY-105/124100g/0.01mg + 120g/0.1mg校正方式 一键自校+时控校准+温控校准+开机自动校准 |
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 | 工业天平IBK20000G称量范围：20100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平EP220A称量范围：220g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 半微量电子天平ES225SM-DR半微量双量程天平，称量范围：102g/225g，读数精度：0.01mg/0.1mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ITK20000G称量范围：20100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 精密天平EP2220M称量范围：2220g，读数精度：1mg，SCS智能内校功能 |
 | 分析天平ES520A称量范围：520g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 电子天平HZY-20032000g/1mg 校正方式 一键自校+时控校准+温控校准+开机自动校准 |
 | 工业天平IBK12000D称量范围：12100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | *TG320B-机械天平1000g/0.5mg |
 | 分析天平EP320A称量范围：320g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 分析天平EP420A-FR称量范围：120~420g，读数精度：0.1mg/1mg，SCS智能内校功能 |
 | 工业天平IBK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK12000D称量范围：12100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK20000G称量范围：20100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平ES125SM称量范围：125g，读数精度：0.01mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ISK30000G称量范围：30100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平IBK24000D称量范围：24100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK12000D称量范围：12100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平EP420A称量范围：420g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
 | 工业天平ISK40000G称量范围：40100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ISK18000D称量范围：18100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 半微量电子天平EP225SM-DR半微量双量程天平，称量范围：102g/225g，读数精度：0.01mg/0.1mg，SCS智能内校功能 |
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 | 工业天平ITK60000G称量范围：60100g，分辨率：1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 工业天平ITK24000D称量范围：24100g，分辨率：0.1g，配置IBK基本型控制器及立柱，校准方式：外部校准 |
 | 分析天平EP520A称量范围：520g，读数精度：0.1mg，SCS智能内校功能 |
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