奥豪斯电子天平温漂和时漂产生原因

奥豪斯电子分析天平的温漂是温度变化对电子分析天平计量性能影响的外部表现，时漂是电子分析天平长时间工作的不稳定性的外部表现。产生温漂的主要原因是电子分析天平内过流元件的发热和天平工作环境温度的变化，产生时漂的主要原因是电子分析天平的永磁体磁感应强度和传感器力敏元件的内部应力随时间的变化、元器件某些参数随时间的变化以及重力加度随地域的变化，温漂和时漂从表象上来看，都是天平加载不变，而测量输出缓慢变化。因此，温漂和时漂从表象上是难以区分的，但它们形成的机理各有不同。


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