梅特勒-托利多推出新型分析天平XP105

　　内容摘要：梅特勒-托利多推出了新型XP105分析天平，进一步拓展了丰硕的XP天平系列。选配LabX Balance软件，只需简朴设置，即可引导操纵职员完成称量过程。

　　梅特勒-托利多推出了新型XP105分析天平，进一步拓展了丰硕的XP天平系列。XP105天平为实验室环境中糖分纯度的定量分析提供了安全、正确的解决方案，降低误差风险、进步效率以及易于操纵。选配LabX Balance软件，只需简朴设置，即可引导操纵职员完成称量过程。

　　因为实验室环境中通常存在硫酸等侵蚀性物质，因此确保安全性至关重要。当操纵职员戴上防护手套的同时，还必需确保实验室仪器坚固、耐用，且易于操纵。此外，为避免样品搅浑等差错，易于执行的差重称量应用程序和自动识别样品功能是首要必备的前提。

　　针对这一类应用的理想解决方案就是XP105天平(量程为100 g，可读性为0.01 mg)。

　　XP105天平的红外感应系统(SmartSens)，匡助用户实现无需用手接触天平的称量操纵，这对在称量过程中需戴手套的操纵职员来说尤为重要。天平的触摸式显示屏为操纵职员提供了清楚的操纵指导，指导操纵职员完成包括样品标识认证在内的称量过程，从而降低差错风险、进步效率。

　　LabX Balance软件使电脑与XP105天平轻松连接。通过对软件进行设置，可指导用户根据天平彩色触摸屏上显示的有关用户尺度操纵程序(SOP)的个性化对话框完成称量过程。这种远程功能和可追溯性文件记实可明显优化实验室工艺过程的效率。